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掃描 開爾文探針

簡(jiǎn)要描述:掃描 開爾文探針不僅可以測(cè)量樣品單個(gè)點(diǎn)的接觸電位差 (CPD),還可以掃描整個(gè)樣品表面。

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時(shí)間:2025-12-04
  • 訪  問  量:42

詳細(xì)介紹

品牌其他品牌產(chǎn)地類別國(guó)產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域綜合

掃描 開爾文探針不僅可以測(cè)量樣品單個(gè)點(diǎn)的接觸電位差 (CPD),還可以掃描整個(gè)樣品表面。

配備光源的 Kelvin 探針可以檢查樣品中電子的表面狀態(tài)。電子的表面狀態(tài)在電荷轉(zhuǎn)移中起著重要作用,這對(duì)掃描 開爾文探針于光伏材料和光電化學(xué)尤為
重要。

掃描樣品表面并檢查其電學(xué)特性的可能性可以精確評(píng)估材料的質(zhì)量、均勻性等。為樣本的許多點(diǎn)收集的一系列 CPD 值可用于更精確地評(píng)
估功函數(shù)。


靜電電壓表


測(cè)量技術(shù)、應(yīng)用的分析方法和儀器的設(shè)計(jì)使該儀器在測(cè)試帶電介電表面方面無(wú)與的倫比,包括電介質(zhì),其中測(cè)量的電位高于累積
電荷可能高達(dá)幾千伏!


掃描開爾文探針系統(tǒng)能夠調(diào)查:

  • 材料的功函數(shù)

  • 費(fèi)米能級(jí)相對(duì)于導(dǎo)帶和價(jià)帶邊緣的位置,

  • 半導(dǎo)體的類型 n 或 p

  • 半導(dǎo)體的能隙 /

  • 表面電位(平帶技術(shù)的 SPV),

  • 表面吸附和化學(xué)吸附對(duì)功函數(shù)的影響,

  • 表面狀態(tài)密度信息 /

  • 表面充放電效應(yīng) /

  • 少數(shù)載流子擴(kuò)散長(zhǎng)度 /

  • 載流子復(fù)合速率(特別是間接帶隙半導(dǎo)體),

  • 埋點(diǎn)接口信息,

  • 溫度對(duì)功函數(shù)的影響,

  • 濕度對(duì)功函數(shù)的影響,

  • 表面上的靜電荷分布。


Kelvin 探針模塊

  • Kelvin 探針組包括:

  • 控制器單元,

  • 帶探針的 Kelvin Probe 儀器,

  • 法拉第籠。

Kelvin Probe 儀器配備:

  • 實(shí)驗(yàn)后用于停放探針的保護(hù)槽,

  • 激光指示器直接指示區(qū)域,

  • 當(dāng)儀器被法拉第籠覆蓋時(shí)幫助處理樣品的光源,

  • 激光屏障,用于精確檢測(cè)探針與樣品的距離,

  • Golden 探針,

  • 樣品架,

  • 電動(dòng) XY 工作臺(tái)。

探頭

Kelvin Probe 儀器最重要的部分是探針。參比電極由直徑為 2.5 mm 的 Au 網(wǎng)制成。它提供高信噪比,即使距離樣品上方 0.5 mm
也是如此。因此,被檢查的樣品表面是粗糙的還是拋光的并不重要。振蕩由電磁鐵產(chǎn)生。

探針是由 Instytut Fotonowy Sp. z o.o. 設(shè)計(jì)和制造的組件。

樣品架


標(biāo)準(zhǔn) Kelvin 探針組包括兩種類型的樣品臺(tái):


  • 用于導(dǎo)電基板上樣品的底部接觸架,

  • 用于非導(dǎo)電基板的頂部接觸支架,

法拉第箱體

整個(gè)儀器被法拉第籠覆蓋,保護(hù)裝置免受環(huán)境光和電磁場(chǎng)的影響。


氣密法拉第箱體,帶惰性氣體流動(dòng)系統(tǒng)

CPD 的科學(xué)測(cè)量通常對(duì)溫度、濕度、灰塵和化學(xué)污染物等環(huán)境因素敏感,開爾文探針可以放置在帶有惰性氣體流動(dòng)系統(tǒng)的法拉第籠的
密封版本內(nèi)。


激光光柵

Kelvin 探針配備了激光屏障系統(tǒng)。系統(tǒng)自動(dòng)檢測(cè)樣品底

液。每次探針接近被測(cè)樣品時(shí),都會(huì)以 20 μm 的精度測(cè)量樣品表面和探針之間的準(zhǔn)確距離。


 

樣品照明

在測(cè)量過程中,樣品可能會(huì)從位于探頭上方的光纖被照亮。探針讓光線通過。光纖輸入端的光可由 LED 旋轉(zhuǎn)器、氙燈與光柵或
任何其他類型所需的光源相結(jié)合提供。







 

掃描 開爾文探針

常規(guī):

  • 重量: 10 kg,

  • 尺寸:40x40x45 厘米,

  • PC 連接:USB 2.0、

  • 電源:230 V,50 Hz 或 115 V,60 Hz,

  • 測(cè)量技術(shù):2 通道鎖相放大器,

  • 激光屏障可自動(dòng)檢測(cè)基材并防止針尖進(jìn)入樣品,

  • 輔助傳感器:濕度、溫度、

  • 小燈 /

  • 用于表面指示的檢查點(diǎn)的激光指示器,

樣品架:

  •  自由形狀的固態(tài),帶頂部觸點(diǎn)支架,

  • 底部觸點(diǎn)支架,

  • 電化學(xué)支架,

法拉第籠:

標(biāo)準(zhǔn)/氣密,帶惰性氣體流動(dòng)系統(tǒng),


測(cè)量單位:

  • 偏置電壓范圍:-5 ÷ 5 V,

  • 電壓測(cè)量分辨率:0.15 mV,

  • 電流范圍:300 nA、30 nA、3 nA、300 pA、


探頭:

  • 探針類型:Au 網(wǎng)孔,直徑 2.5 mm,

  • 垂直軸上的針尖定位分辨率:20 μm,

  • 自動(dòng)共振頻率掃描 /

  • 可調(diào)振蕩幅度 /

  • 自動(dòng)去除的寄生電流,

  • 光源的部分透明度,

  • 典型 CPD 測(cè)量距離:0.2 – 1 mm,


XY 工作臺(tái):

  • 電動(dòng),通過軟件控制,

  • 尺寸:50 x 50 mm,

  • 移動(dòng)范圍:50 x 50 mm,


示范性成果


鋁表面

樣品表面的電勢(shì)分布:

掃描 開爾文探針



測(cè)量期間的環(huán)境溫度:

掃描 開爾文探針


測(cè)量過程中的空氣濕度:

掃描 開爾文探針


帶有周期性孔的金屬表面樣品

掃描 開爾文探針


樣品表面的電勢(shì)分布:

掃描 開爾文探針


持續(xù)測(cè)量期間的環(huán)境溫度:

掃描 開爾文探針


持續(xù)測(cè)量期間的空氣濕度:

掃描 開爾文探針


電介質(zhì)表面的電荷分布:

鋁箔上的 PTFE – 來(lái)自樣品表面電荷的電勢(shì)

掃描 開爾文探針


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