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  • 非接觸式全自動曲率及薄膜
    非接觸式全自動曲率及薄膜

    非接觸式全自動曲率及薄膜:全自動二維或三維測量彎曲、弧度、坡度和表面曲率,軟件模塊用于計算硅片和玻璃基板的薄膜應力(晶圓應力)。

    更新時間:2025-12-04型號:
  • 球磨測厚儀
    球磨測厚儀

    球磨測厚儀,控制單元自帶可編程的微處理器:速度,時間,球型,X,Y直徑。顯微鏡:放大倍數100*,自帶LED光源,目鏡最小刻度為0.02mm。

    更新時間:2025-12-04型號:
  • 涂層附著力檢測儀
    涂層附著力檢測儀

    涂層附著力檢測儀,工作過程:在使用洛氏硬度計完成常見的硬度測試后,用戶可以直觀評估樣品周邊裂縫。這個測試的樣品必須是在高速鋼或者硬度高于54HRC的基底上生長的鍍層,鍍層的最大厚度為5um。

    更新時間:2025-12-04型號:
  • 摩擦學測試儀
    摩擦學測試儀

    摩擦學測試儀,針-圓盤型和往復式(摩擦計)已經在一個革新之路上被設計很久,在市場上已有20年經驗和35年的摩擦學測量,目的是滿足摩擦學的需要。

    更新時間:2025-12-04型號:
  • 輪廓儀
    輪廓儀

    輪廓儀,因為不準確的結果,錯誤的涂層或基底材料會被選擇,并且最終應用會高于預期的功能性的故障或與原始的計算相比較短的工作壽命。

    更新時間:2025-12-04型號:
  • 界面力學分析儀
    界面力學分析儀

    界面力學分析儀,又名表面力儀(SFA),可以用來直接測量表面(諸如:無機物,金屬,氧化物,聚合物,玻璃,生物分子界面等)間靜態(tài)力和動態(tài)力,并在分子級領域內研究界面和薄膜現象。模塊化的設計允許更多擴張功能和滿足客戶定制需求。

    更新時間:2025-12-04型號:
  • 團簇離子束 飛行時間二次離子質譜儀
    團簇離子束 飛行時間二次離子質譜儀

    優(yōu)良的動態(tài)TOF-SIMS團簇離子束 飛行時間二次離子質譜儀,它使用直流主束和革命性的飛行時間分析儀,創(chuàng)建了成像質譜的新范式。直流一次離子束的使用允許快速成像和連續(xù)數據采集(即沒有單獨的蝕刻周期),同時提供高空間和質量分辨率。

    更新時間:2025-12-04型號:
  • 真空摩擦學系統(tǒng)
    真空摩擦學系統(tǒng)

    真空摩擦學系統(tǒng)用于研究超高真空或大氣環(huán)境條件下兩個表面之間的摩擦性質。應用負載從 1 到 10N。

    更新時間:2025-12-04型號:
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